VayoPro-Test Expert：DFT分析&测试制程

支持各种CAD数据源

Test Expert能够支持各种CAD数据源，如Cadence Allegro/OrCAD, Mentor, PowerPCB, Altium/Protel, Zuken, ODB++, GenCAD, Accel, Unidat等。

BOM智能导入与校验

如果没有CAD数据源，您也可以利用VayoPro软件（独立模块）对各种BOM数据进行分析。

测试选针优化

丰富灵活、直观明晰的选针设置及行业最优的测试优化算法，可以保证最佳的测试选针结果。可以详细设定规则细节（大小、距离、种类、数量、优先级、强制位置等），还可以设置多个选针规则系列，同时生成不同结果用于比较差异。

交互结果查询

在浏览结果时，不但可以看到不可测原因归类，还可以互动切换到PCB视图位置，更直观了解情况，快速制定调整方案。

测试验证及可测率优化提升

有时用于PCB制作的Gerber会与PCB CAD不一致，导致测试点被阻焊层覆盖。Test Expert支持导入额外的Mask层Gerber，验证下针位置接触性，对于被覆盖的测试位置可以重新定位。另外，Test Expert独有的Net Link功能可以帮助快速发现欧姆电阻、保险丝、开关等“连通”的网络，优化合并网络，从而提升测试网络覆盖率/可测率；或者保持同意测试覆盖率的前提下，减少测试用针，降低夹具成本。

内容最丰富的DFT/Testability报告

Test Expert可测试性报告包含丰富的内容：测试覆盖率百分比、测试网络详细报告、未测试网络详细报告、元器件报告、引脚下针覆盖报告、并联分析报告等；而且可以输出为不同文件格式：文本、PDF、Excel及Html。

快捷高效测试策略分析

评估不同测试方式（ICT, AOI, AXI… … ）对制造缺陷的覆盖率评估；

覆盖主要制造缺陷如丢件、开路、短路、极性错误和错件

 ICT/MDA夹具设计

强大的夹具设计功能，可以设计出最优化的夹具，并输出各种夹具钻孔绕线等数据文档。

 ICT/飞针/AOI/X-Ray程序输出

可以生成各种MDA/ICT/ATE精细测试程序，支持的测试设备有Keysight/Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, Areaflex/IFR, SRC …